ГОСТ 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений.Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые.Методика поверки
1. Область применения
Настоящий стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы (далее - микроскопы), применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10-9 до 10-6 м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ 8.591 и ГОСТ 8.592.
Категория: ГОСТы
Документ платный
Цена: 2400 Тенге
Открыть полный доступ
